
天津國電儀訊科技有限公司
經(jīng)營(yíng)模式:生產(chǎn)加工
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主營(yíng):測試儀器
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網(wǎng)絡(luò )分析儀逆Z變換時(shí),常采用加窗功能,窗的作用可以提高時(shí)域分辨率,矩形窗(無(wú)窗)主瓣窄,適用相鄰距離較近并且幅度接近的兩個(gè)脈沖;其它窗型,抑制旁瓣,適用相隔距離較遠并且幅度相差很大的兩個(gè)脈沖。
門(mén)控功能,施加在時(shí)域響應曲線(xiàn),設置時(shí)間門(mén),可以把時(shí)間門(mén)內(或時(shí)間門(mén)外)的時(shí)域響應值置為0,再轉換為頻域(Z變換),目的是定位測量S參數,例如用來(lái)去除多徑反射信號。






網(wǎng)絡(luò )分析儀內部功分器和定向耦合器分別完成對被測件輸入信號和反射信號的提取。其中當要測試被測件某個(gè)端口反射特性時(shí),必須將定向耦合器直接連接在該測試端口上。
這兩部分統稱(chēng)為信號分離裝置,這部分硬件也通常被測試為“測試座”,在一些特殊測試場(chǎng)合(大功率測試等)可不使用網(wǎng)絡(luò )分析儀表一體化的內置測試座,而使用外置測試座設備。
電橋用于反射性能測試,電橋可覆蓋很寬頻率范圍,電橋的主要缺點(diǎn)是對傳輸信號有較大損耗。因此對于給定的信號源功率。結果導致輸入到被測件的功率損失。
定向耦合器負責分離反射測試中的激勵信號和反射信號,這個(gè)功能也可由電橋完成,與定向耦合器相比,電橋可覆蓋更寬的頻率范圍,單其對測試的傳輸信號有較大損耗。
與其它方法相比,使用VNA進(jìn)行以上測量有三個(gè)優(yōu)點(diǎn)。首先,只用一臺測試儀器,只進(jìn)行一次連接便能對全部參數進(jìn)行測量:S參數、增益壓縮、輸出諧波、IMD等等。其次,與使用頻譜分析儀相比,用功率計對VNA進(jìn)行校準之后,測量精度更高。后,如果使用一臺頻譜分析儀和兩個(gè)獨立的信號源進(jìn)行同樣的測試,完成測試需要花幾分鐘的時(shí)間,但使用PNA-X只需0.6秒。
相位與驅動(dòng)的關(guān)系是用PNA-X很容易完成的另一種常見(jiàn)的雙信號源測試。這個(gè)測試參數表征的是當在相鄰通道或帶外存在大信號時(shí),放大器處理小信號的能力。測試的方法是把不同頻率的一個(gè)大信號和一個(gè)小信號合在一起然后送至被測放大器(AUT),然后在改變大信號的功率時(shí)(使用功率掃描),測量小信號的S21相位。

吳經(jīng)理先生
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